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憑借著多年的行業(yè)經(jīng)驗及技術(shù)積累，我們可以為客戶提供半導(dǎo)體在片測試解決方案、材料電性能測試設(shè)備、微波射頻器件測量等測試技術(shù)服務(wù)。手動鍵合機

晶圓 2D/3D AOI 檢驗顯微鏡進料的wafer，經(jīng)過正反面目檢和顯微鏡正面micro檢查，進行檢查和分選。操作員不接觸wafer，避免了污染和損傷wafer。

公司已經(jīng)與多家世界的半導(dǎo)體器件和精密測試領(lǐng)域的品牌廠商簽訂合作。這些品牌包括：切割機，探針臺系統(tǒng)制造商MPI；世界微波組件和測試系統(tǒng)制造商MAURY；測量儀器制造商KEYSIGHT；的模型服務(wù)商Modelithics；EDS設(shè)備日本 HANWA和TOTOKU等。

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