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一、頻譜分析儀是研究電信號頻譜結(jié)構(gòu)的儀器，用于信號失真度、調(diào)制度、譜純度、頻率穩(wěn)定度和交調(diào)失真等信號參數(shù)的測量，可用以測量放大器和濾波器等電路系統(tǒng)的某些參數(shù)，是一種多用途的電子測量儀器。二、工作原理是輸入信號經(jīng)衰減器直接外加到混波器，可調(diào)變的本地振蕩器經(jīng)與CRT同步的掃描產(chǎn)生器產(chǎn)生隨時間作線性變化的振蕩頻率，經(jīng)混波器與輸入信號混波降頻后的中頻信號(IF)再放大，濾波與檢波傳送到CRT的垂直方向板，因此在CRT的縱軸顯示信號振幅與頻率的對應(yīng)關(guān)系。三、分類：(1)傳統(tǒng)的頻譜分析儀...

高低溫半自動探針臺是一種用于數(shù)學(xué)領(lǐng)域的分析儀器，為晶片、器件和材料（薄膜、納米、石墨烯、電子材料、超導(dǎo)材料、鐵電材料等）提供真空和高低溫測試條件下進行非破壞性的電學(xué)表征和測量平臺。在不同測試環(huán)境、不同溫度條件下可對微結(jié)構(gòu)半導(dǎo)體器件、微電子器件及材料進行電學(xué)特性表征測試。可以對材料或器件進行電學(xué)特性測量、光電特性測量、參數(shù)測量、高阻測量、DC測量、RF測量和微波特性測量，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體工業(yè)（芯片、晶圓片、封裝器件）、MEMS、超導(dǎo)、電子學(xué)、物理學(xué)和材料學(xué)等領(lǐng)域。高低溫半自動探...

半導(dǎo)體測試設(shè)備是一種用于電子與通信技術(shù)領(lǐng)域的電子測量儀器，半導(dǎo)體制造是人類迄今為止掌握的工業(yè)技術(shù)難度Z高的生產(chǎn)環(huán)節(jié)，是先進制造領(lǐng)域上的一顆鉆石。隨著半導(dǎo)體技術(shù)不斷發(fā)展，芯片線寬尺寸不斷減小，制造工序逐漸復(fù)雜。目前國際上7nm制程已進入產(chǎn)業(yè)化階段，需要近2000道工序，先進的制程和復(fù)雜的工序?qū)⒊掷m(xù)提升對于先進設(shè)備的需求。集成電路檢測根據(jù)工藝所處的環(huán)節(jié)可以分為設(shè)計驗證、前道量檢測和后道檢測。集成電路芯片的生產(chǎn)主要分為IC設(shè)計、IC前道制造和IC后道封裝測試三大環(huán)節(jié)，狹義上對集成電...

uf200探針臺是一種用于生物學(xué)領(lǐng)域的電子測量儀器，專為通用邏輯裝置而設(shè)計，支持對8英寸及8英寸以下晶圓進行自動測試，支持200um薄片的測試，測試溫度范圍從室溫到150度。它不僅繼承了UF200的基本概念，同時進一步采用了新技術(shù)的架構(gòu)。可以提供晶圓OCR自動識別，自動控制、與測試機聯(lián)動對8英寸及8英寸以下晶圓進行自動測試的篩選。一、產(chǎn)品特點：1、它可執(zhí)行5至8英寸晶圓的傳輸與針測。2、采用和UF2000相同的MMI。3、多種選擇，可達成所有非業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)種類的晶圓針測。4、增加...

一、探針臺主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本。二、特性：1、OTS-最近的位置對正系統(tǒng)(光學(xué)目標(biāo)對準(zhǔn))OTS通過對照相機相對位置的測量來保證其絕對位置的精度。這是非常引人注目的技術(shù)，來源于東京精密的度量技術(shù)。OTS實現(xiàn)了以自己為參照的光學(xué)對準(zhǔn)系統(tǒng)。2、QPU-高剛性的硅片承載臺(四方型系統(tǒng))為了有效的達到接觸位置的精度，硅片承載臺各部分的剛性一致是非常重...

射頻探針是我們在測試時不可少的工具，主要用于電子測試設(shè)備，對硅片、管芯及開放式微芯片中的電子電路射頻（RF）信號進行測量，還用于連接器組件中窄間距或高密度射頻互連應(yīng)用。射頻應(yīng)用中使用的傳輸線一般為與電路板連接的同軸線纜，以及設(shè)置于電路板內(nèi)部的微帶線。在對待測電路進行測試時，需要經(jīng)傳輸線向該待測電路發(fā)送信號。它至少需要兩種導(dǎo)體，一種為信號導(dǎo)體，另一種為接地導(dǎo)體。這些導(dǎo)體的結(jié)構(gòu)決定了待測電路測試所需的探針類型。探針結(jié)構(gòu)分為GS（接地-信號）、GSG（接地-信號-接地）以及GSSG...

一、探針臺可以將電探針、光學(xué)探針或射頻探針放置在硅晶片上，從而可以與測試儀器/半導(dǎo)體測試系統(tǒng)配合來測試芯片/半導(dǎo)體器件?？梢栽趯⒕A鋸成單個管芯之前或之后進行測試。在晶圓級別的測試允許制造商在生產(chǎn)過程中多次測試芯片器件undefined，這可以提供有關(guān)哪些工藝步驟將缺陷引入最終產(chǎn)品的信息。它還使制造商能夠在封裝之前測試管芯，這在封裝成本相對于器件成本高的應(yīng)用中很重要。探針臺還可以用于研發(fā)、產(chǎn)品開發(fā)和故障分析應(yīng)用。二、探針臺主要用于晶圓加工之后、封裝工藝之前的CP測試環(huán)節(jié)，負(fù)責(zé)...

opus探針臺通過與測試儀器的配合，探針臺將參數(shù)特性不符合要求的芯片記錄下來，在進入后序工序前予以剔除，大大降低器件的制造成本。被廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量，并縮減了研發(fā)時間和器件制造工藝的成本。主要用于晶圓制造環(huán)節(jié)的晶圓檢測、芯片研發(fā)和故障分析等應(yīng)用。如何工作？它可以固定晶圓或芯片，并精確定位待測物。手動探針臺的使用者將探針臂和探針安裝到操縱器中，并使用顯微鏡將探針jian端放置到待測物上的正確位置。一旦所有探針jian端都被設(shè)置在正確的位置，就可以對待測物進行...