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當前位置：首頁 > 產(chǎn)品展示 > 探針及探針座 > 射頻探針 > GCP40射頻探針
簡要描述：現(xiàn)代射頻集成電路的設計調(diào)試和測試是另一項復雜的任務。 除了射頻輸入和輸出信號外，設備還需要無振蕩偏置以及數(shù)字控制信號（例如，用于改變放大器的增益）。所有這些都需要通過為每個產(chǎn)品單獨配置的盡可能小的接觸墊傳送到集成電路。基于多年射頻探測技術實操經(jīng)驗和深耕為滿足國產(chǎn)測試需求而研制,可N個觸點射頻探測技術，快速測試您的RF IC
產(chǎn)品型號：GCP40廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2024-12-27訪 問 量：353詳細介紹
優(yōu)勢說明：
自有的激光+水刀切割探針頭部技術
優(yōu)良的HFSS仿真技術
優(yōu)良的DC至110 GHz同軸提參技術
業(yè)內(nèi)頂配的測量儀表+建模人員團隊
滿足工作溫度-55℃ ~ +125℃
可快速交付50、100、150、200和250µm的傾斜探頭
可選擇鈹銅或鎳合金材料（推薦鎳合金）
擁有超過110000次的老化實驗
可兼容多家校準片或使用GCC校準片
GCP射頻微波探針：
連接器接頭： 2.92mm母頭 針尖配置： GSG 針尖中心距：50~250um 針尖寬度： 28um 滑行距離： ≤30um | 探針頭示意圖
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jGCP40產(chǎn)品有多個型號和不同中心間距可以選擇，詳細選型請聯(lián)系我們。
我們的射頻探測技術，用于表征射頻集成電路。 間距從 50 μm 到 250μm，可滿足您的多種測試需求。 使用在線設計捕獲表單，根據(jù)您的集成電路焊盤布局選擇射頻信號 (S)、邏輯 (L) 和電源 (P) 通道，構(gòu)建您的探針。
注：商用探針尖射頻校準標準采用共面設計，包括不同類型的校準元件：開路、短路、負載和線路。 因此，可以進行各種類型的探頭尖部校準
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